Bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100 检测设备
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具备高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。
该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。
新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比高的台式系统。
计量能力
ContourX-100 轮廓仪是布鲁克40多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域专有光学创新和行业的结晶。
该系统利用三维 WLI 和二维成像技术，一次采集可执行多次分析。
ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情况下都能发挥稳定性能。
价值和分析
ContourX-100 台式可执行数千种自定义分析，并采用布鲁克简单而强大的 VisionXpress 和 Vision64 用户界面，提升了实验室和工厂的生产效率。
软硬件的结合，实现简便操作下的高效率光学性能，全面超越同类计量技术。
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ContourX-100
白光干涉仪
三维光学轮廓仪
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