布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200 检测设备
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Bruker白光干涉仪
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布鲁克三维光学轮廓仪
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ContourX-200光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。
ContourX-200还配有业界的操作和分析软件Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
特点
·易于使用的界面,可快速准确地获得结果
·自动化功能用于日常测量和分析
·广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析
·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
关键词:
布鲁克
bruker
ContourX-200
三维光学轮廓仪
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