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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200 检测设备

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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200 检测设备

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所属分类
白光干涉仪
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ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

ContourX-200还配有业界最先进的操作和分析软件Vision64。最新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。

特点

·易于使用的界面,可快速准确地获得结果

·自动化功能用于日常测量和分析

·最广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析

·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

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