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bruker白光干涉仪

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bruker布鲁克三维光学表面测量系统GT-X
Bruker GT-X型三维光学表面测量系统是Bruker 公司三维光学显微镜Contour系列中的旗舰产品。具备全自动、大样品测试能力的GT-X是目前市场上大视场、垂直分辨率最高、可定标的计量式表面测试系统。从最基本概念设计开始,GT-X就是为满足目前最具挑战性的测量需求,如产品研发、质量保证和工艺监控等各种苛刻要求,而打造的。
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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200 检测设备
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。
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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500 检测设备
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