Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光谱仪
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Bruker M4 TORNADO PLUS
用于超轻元素分析的微区XRF成像光谱仪
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M4 TORNADO PLUS能够检测、分析从碳（C）到镅（Am）全元素的微区XRF成像光谱仪。作为久经验证、市场ling先的M4 TORNADO微区XRF分析仪系列的zui新成员，M4 TORNADO PLUS还具备多项创新功能，例如：创新的孔径管理系统、超高通量脉冲处理器以及灵活的快速更换样品台。
产品特点
·两个大面积硅漂移探测器（SDD），配备超轻元素窗口
·高性能X射线管，增强低能量激发
·超高通量脉冲处理器
·zhuan利孔径管理系统（AMS）
·快速更换样品台（可选多种样品支架）
·第二X射线管，配备自动四位置准直器切换装置（选配）
·可编程氦气吹扫系统（选配）
产品优势
·轻元素检测下限至碳（C）
·提升轻元素检测效率
·缩短采集时间，提升分析效率
·高景深设计，确保表面形貌复杂样品成像时更多特征与细节清晰聚焦
·缩短样品更换与系统准备时间
·高能谱线分析灵活性更高
·常压环境下实现轻元素分析性能
仪器亮点
M4 TORNADO PLUS 通过采用配备超轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）及超高通量脉冲处理器，实现了对碳（C）以上轻元素的高效检测，并大幅提升了采集速度。其zhuan利孔径管理系统（AMS）可提供景深性能，即使是表面形貌复杂的样品也能实现精准分析。
得益于低能量范围内显著增强的灵敏度，钠 （Na）至氯（Cl）元素的检测性能大幅提升，与入门级微区XRF系统相比，典型计数率（cps）增幅高达20倍。
凭借这些性能突破，前沿研发领域可受益于高速微区XRF面扫描。
产品规格
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样品类型
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固体、颗粒、液体
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样品室尺寸
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W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm
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样品台
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W x D: 330 mm x 170 mm, 最大载重： 7 kg
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测量气体
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空气环境或可调真空（配备无油泵，约3分钟可达2毫巴），可选氦气吹扫系统
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样品行程
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最大行程： W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm
扫描行程： W x D: 190 mm x 160 mm
移动速度：采用TurboSpeed样品台时最高可达100 mm/s
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样品视图
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双路实时俯视成像系统（不同放大倍率）实现样品概览与精确定位，侧向鱼眼镜头提供样品室全景监控
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激发
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第一X射线管：高亮度、轻元素微焦斑X射线管，配备多导毛细管X射线光学系统和孔径管理系统（AMS）
靶材：铑（Rh），可选银（Ag）
管参数：50 kV，30 W
光斑尺寸：使用多导毛细管透镜时，≤20μm (Mo Kα @17.5 keV)
滤光片：8种激发滤光片
可选第二X射线管：细聚焦X射线管，配备四位置准直器切换装置，准直器尺寸从0.5 mm到4.5 mm
靶材：钨（W），可选铑（Rh）、钼（Mo）、铜（Cu）、铬（Cr）
管参数：50 kV，40 W
滤光片：8种激发滤光片
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探测器
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XFlash®超轻元素硅漂移探测器，可检测从碳（C）到镅（Am）的元素，支持双探测器 。
敏感区域面积：2 x 60 mm²；
能量分辨率：< 145 eV（在输入计数率为 600,000 cps 时）；
吞吐量：最高可达 550,000 cps 输出计数率
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仪器控制
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先进的PC，Windows®操作系统
X射线管参数、滤光片、光学显微镜、样品照明及样品定位全面控制
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光谱评估
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峰识别、伪影与背景校正、峰面积计算、FP定量分析，使用 XMethod 进行基于标样和无标样的校准定量分析
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分布分析
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“On the fy” 测量，HyperMap功能
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结果呈现
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定量分析结果，统计评估，元素分布（线扫描，面扫描）
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电源要求
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100 - 240 V (1P), 50/60 Hz
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尺寸和重量
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W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*
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质量与安全
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DIN EN ISO 9001:2015, CE 认证，UKCA 认证；全面辐射防护系统；辐射量 < 1 μSv/h
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关键词:
XRF
成像光谱仪
Bruker
Bruker M4 TORNADO PLUS
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