Bruker Alicona FocusX三维表面测量仪
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Bruker Alicona FocusX三维表面测量仪 产品介绍
·非接触式探测
在医疗等高精尖行业中，生产的零件具有高光泽的表面、陡峭的侧面、复杂的形状等特点，因此对测量技术的要求越来越高，接触式测量设备已经无法满足。如果测量后的部件不再与测量前一样，那么再好的质量保证又有什么用呢？接触式测量设备需要接触样品，因此可能会损坏样品，而 FocusX 的光学测量技术则可以提供精确的形貌和尺寸参数以及粗糙度数据。而且这完全是非接触式的。
·证明精度
您是否尝试过测量 Kern Precision 等机床铣削和激光加工部件的尺寸、位置、形貌和粗糙度？如果您需要测量同样精细的东西，那么您肯定会使用 FocusX。精密部件的生产对计量学提出了严峻的考验：小半径、尖边楔角和个位数微米范围内的公差。希望在生产线 上大批量检测。这些都要求一种全自动、可追溯、可重复地确定样品 几何形状的测量系统。FocusX 仅用一个光学传感器就能做到这一 点。该技术可以横向探测工件的侧面，也可以测量孔径比比为 1:3 至 1:10 的孔。
·测量所有区域
要想获得全面的质量保证，您需要部件的全面 3D 数据。FocusX 利用 Real3D 技术提供的正是这样的数据。试想一下，如果要对一个宽度小于 10 毫米、厚度小于 1 毫米的电子连接器进行测量。系统可以从不同角度进行单独测量，并将其合并为样品的三D数据。 这样不仅可以从不同角度直观地观察元件，还可以测量轮廓、形状 和偏差。光学高精度旋转轴和倾斜轴使测量结果具有可重复性和可 追溯性。
Bruker Alicona FocusX 三维表面测量仪技术规格
一般规格
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测量原理
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非接触、光学、三维技术：
• 高级焦距变化（smart Flash 2.0）
• 聚焦探测
• 垂直聚焦探测
• Real3D
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软件
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MetMaX:
• 高级CAD 测量规划
• PDF 报告
• Alicona inspect
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测量点数量
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单次测量：X：2160，Y：2160，X x Y：460
万：高达 5 亿
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定位体积（X x Y x Z）
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100 x 100 x 100 毫米 = 1 000 000 毫米3
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维护
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建议每年进行一次检验和重新校准
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系统监控
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通过温度传感器、内部电流和电压监控器自动进行自我诊断
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控制服务器
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12 核、32 GB DDR5、1 TB SSD、Windows 10 IoT Enterprise 64 位、2x 27‘‘ Full HD LED 显示器
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测量对象
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表面纹理
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任何表面，包括抛光金属
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最大高度
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最大 145 毫米；可定制
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最大重量
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最多 8 千克；可定制
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最大可测量坡角
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高级焦距变化：87°/垂直焦距探测：> 90°
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镜头的主要参数
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镜头
|
1900 WD30
|
800 WD37 (2)*
|
800 WD17
|
400 WD19
|
150 WD11
|
|
|
工作距离
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mm
|
30
|
37
|
17.5
|
19
|
11
|
|
横向测量范围 (X,Y)
|
mm
|
3.8
|
1.6
|
1.6
|
0.66
|
0.3
|
|
测量点距离
|
µm
|
1.77
|
0.72
|
0.72
|
0.36
|
0.14
|
|
测量噪点 (3)
|
nm
|
100
|
90
|
20
|
12
|
6
|
|
垂直分辨率
|
nm
|
290
|
260
|
60
|
35
|
20
|
分辨率和应用规格
|
镜头
|
1900 WD30
|
800 WD37 (2)*
|
800 WD17
|
400 WD19
|
150 WD11
|
|
|
最小可测量线粗糙度 (Ra)
|
微米 |
n.a.
|
n.a.
|
0.18
|
19
|
11
|
|
最小可测量面粗糙度 (Sa)
|
微米 |
n.a.
|
n.a.
|
0.09
|
0.66
|
0.3
|
|
最小可测量半径
|
微米 |
12
|
10
|
5
|
3
|
2
|
如有需要具体产品资料，可联系上海尔迪仪器科技有限公司，拨打电话021-61552797
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Bruker FocusX
Bruker Alicona三维表面测量仪
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