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布鲁克Dektak Pro:第十一代探针式轮廓仪,重新定义精密测量的精度与效率

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布鲁克Dektak Pro:第十一代探针式轮廓仪,重新定义精密测量的精度与效率

  • 分类:新闻资讯
  • 作者:上海尔迪仪器科技有限公司
  • 来源:www.verdegroup.cn
  • 发布时间:2026-05-28 16:20

布鲁克Dektak Pro:第十一代探针式轮廓仪,重新定义精密测量的精度与效率

作为Dektak系列的旗舰升级款,Dektak Pro凝聚布鲁克55年技术创新,将接触式测量的性能推至全新高度。核心精度表现:垂直分辨率,台阶高度重复性稳定优于,数据精准度与重复性比肩实验室顶级标准。

 

搭载直驱扫描台与Vision64智能软件,自动台阶检测减少人为误差,2D/3D形貌、应力、晶圆翘曲一键分析。硬件兼容强大:支持200mm8英寸)样品,扫描长度达55mm,凭借可达200mm;可选N-Lite+精微力传感器,0.03mg超低探针力适配薄膜、软材料,杜绝表面损伤。

 

从半导体晶圆、光学镀膜、显示面板,到MEMS器件、生物材料与高端质检,Dektak Pro以高精度、高效率、高兼容,成为研发与工业量产的标配之选。

 

Dektak Pro 特点综述:

1. 布鲁克Dektak Pro,55年积淀,纳米级轮廓测量金标准

 

2. 精度致胜,效率为先,Dektak Pro探针式台阶仪,定义精密测量新高度

 

3. 从研发到量产,一仪掌控Dektak Pro,半导体/材料科学的微米级慧眼

 

  1. 第十一代旗舰,4Å重复性,200mm大样品兼容,一键式智能分析

 

核心点:

 

• ✅ 55年技术积淀,行业金标准

 

• ✅ 4Å重复性,1Å垂直分辨率

 

• ✅ 200mm大样品台,适配8英寸晶圆

 

• ✅ 0.03mg超低探针力,无损测量

 

• ✅ 直驱扫描+智能软件,高效省心

 

• ✅ 半导体/光学/MEMS/材料科学全适配

 

 

Dektak Pro精测入微,智控全局。

 

 

 

详细技术参数请致电沟通,021-61552797

 

 

 

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