搜索
确认
取消
>
>
白光干涉仪

产品分类

布鲁克三维光学表面测量系统GT-X
Bruker GT-X型三维光学表面测量系统是Bruker 公司三维光学显微镜Contour系列中的旗舰产品。具备全自动、大样品测试能力的GT-X是目前市场上大视场、垂直分辨率最高、可定标的计量式表面测试系统。从最基本概念设计开始,GT-X就是为满足目前最具挑战性的测量需求,如产品研发、质量保证和工艺监控等各种苛刻要求,而打造的。
Details 白箭头 黑箭头
布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200 检测设备
Details 白箭头 黑箭头
布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500 检测设备
Details 白箭头 黑箭头
上一页
1