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布鲁克Hysitron TS 77 Select纳米压痕仪 专业解决方案
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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500 检测设备
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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200 检测设备
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。
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布鲁克生物型原子力显微镜NanoWizard 4 XP 微纳表面测量解决
更多详细资料,可联系上海尔迪仪器科技有限公司,拨打电话021-62211270!021-62211270!
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Diener 等离子清洗机 Zepto
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Bruker布鲁克原位纳米力学测试系统Picoindenter
Bruker的PI 系统—PicoIndenter原位纳米力学测试系统,是Bruker公司专为扫描和透射电镜设计的可以通过视频捕获功能实时监测测试过程,并同步采集力学数据的定量纳米力学测试设备。独特的传感器设计使其在整个实验中具有无可比拟的稳定性,受到广大用户的好评。可以在电镜中进行原位压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试;此外,通过升级电学、加热模块,还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。
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Bruker布鲁克原子力显微镜Dimension FastScan
布鲁克原子力显微镜Dimension FastScan,需要bruker其他型号的产品,可拨打电话021-61552797咨询上海尔迪仪器科技有限公司
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Bruker布鲁克三维光学表面测量系统GT-X
Bruker GT-X型三维光学表面测量系统是Bruker 公司三维光学显微镜Contour系列中的旗舰产品。具备全自动、大样品测试能力的GT-X是目前市场上大视场、垂直分辨率高、可定标的计量式表面测试系统。从基本概念设计开始,GT-X就是为满足目前具挑战性的测量需求,如产品研发、质量保证和工艺监控等各种苛刻要求,而打造的。
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Bruker布鲁克台阶仪-表面轮廓仪 Dektak XT
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。
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