bruker白光干涉仪型号：ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500

bruker白光干涉仪的内在优势

垂直分辨率

·极限分辨:0.01nm

·与视场无关，与工作距离无关

横向分辨率

·依据Sparrow准则高可达0.38um

·保证每颗物镜处于佳状态

普适性

·适用于各种不同样品表面

·较大工作距离，简便而安全

·可在各种表面状态下灵活测试

计量

·计量实验室对台阶高度进行白光干涉认证

·bruker布鲁克研发，满足各种严苛质量监控要求

bruker布鲁克白光干涉仪的行业应用

薄膜与镀层

表面粗糙度与厚度独特的准确性，大视场下亚纳米级分辨率，高效、快速统计在几乎所有表面都适用。

纳米级厚度分布表征: 从几百 µm 到 100nm 。并且更大面积测量，提升了统计效果和效率。

表面纹理、承载比参数、平均厚度与分布均匀性、•缺陷检测都能进行专业分析

完备和简易的界面：自适应的USI模式保持佳测试结果、自动表面聚焦和亮度调节， 更快获得结果和报告输出。

精密加工

亚纳米级准确性的粗糙度/波纹度/平整度： •效率 •符合ISO / ASME标准线/面粗糙度 •几乎所有表面均可测量

完备和简易的界面 •自适应的USI模式保持佳测试结果 •自动表面聚焦和亮度调节，更快获得结果 •根据规格自动判Pass/Fail

•表面纹理 •承载比参数 •网纹分析 •匹配探针式测量结果 •孔洞检测都能进行专业分析

•完备定制化 •自动输出格式 •满足QA/QC要求

材料研究

不同视场下均可获取到 亚纳米级垂直分辨细节的所有形貌信息: •一次性得出波纹度，粗糙度 •几十微米的台阶高度准确测量同时获得亚纳米分辨的表面粗糙度

任何时候都能得到佳结果: •从光滑到粗糙 •从发亮到哑光表面 •自适应测量 •通过自动找焦距和亮度调节实现快速设定

突破衍射极限: •可达150nm 的横向分析能力

处理数据 •缺省包含40 种不同过滤与分 析功能 •免费离线数据分析软件 •通过Vision Map实现更强大更 高阶的分析与报告输出

摩擦学

大视场下准确而灵活的测量模式: • 效率 • 可测试放射率差异大的样品 • 可测试粗糙的斜坡

匹配销/球-盘摩擦的环形预设缝合路径: • 易于使用 • 节省时间，提高效率

用于 • 正/负体积 • 转移和丢失体积 • 面粗糙度 • 承载比参数的特定分析

高级分析功能： • 断面分析 • 参考面拉平，高12 次多项式拟合

-----

上海尔迪仪器科技有限公司是bruker的代理。bruker布鲁克白光干涉仪在我司均可购买。更多详细资料，可联系上海尔迪仪器科技有限公司，拨打电话021-61552797！