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尔迪科普|X射线荧光光谱仪(xrf)相关术语汇总

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尔迪科普|X射线荧光光谱仪(xrf)相关术语汇总

  • 分类:新闻资讯
  • 作者:上海尔迪仪器科技
  • 来源:www.verdegroup.cn
  • 发布时间:2021-07-12 16:28

尔迪科普|X射线荧光光谱仪(xrf)相关术语汇总

1.XRF

 

XRF是指X射线荧光光谱分析。X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。

 

XRF优点:

·对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测,而不毁坏样品。

 

·测试速率高,可以在较少时间内进行大量样品测试,分析结果可以通过计算机直接连网输出。

 

·分析速度较快。

 

·对于纯金属可采用无标样分析,精度能达分析要求。

 

·不需要专业实验室与操作人员,不引入其它对环境有害的物质。

 

HHXRF :手持式X射线荧光分析仪

PXRF :便携式X射线荧光分析仪

 

2.WDXRF

 

波长色散型X射线荧光光谱法。样品被入射X射线激发产生的荧光X射线,经分光器色散后,由测角仪(θ)联动装置上的探测器(2θ),在不同方向(角度-2θ)上,对X射线荧光光谱进行谱线波长和强度测量,最终给出待测元素含量报告的X射线荧光光谱分析仪器。相比较于利用能量色散型X射线荧光光谱法的分析仪,其价格更加昂贵。

 

3.EDXRF

 

能量色散型X射线荧光光谱法。根据元素辐射x射线荧光光子能量不同,经探测器接收后用脉冲高度分析器区别,进行元素鉴定;根据分析线脉冲高度分布的积分强度.进行元素定量的分析方法。快速、经济的X射线荧光技术,普遍被运用在手持式的X射线荧光分析仪中。

 

4.X射线管

 

两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为50kV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。

 

X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源,X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。

 

5.分光系统

 

分光系统的主要部件是晶体分光器,它的作用是通过晶体衍射现象把不同波长的X射线分开。根据布拉格衍射定律2dsinθ=nλ,当波长为λ的X射线以θ角射到晶体,如果晶面间距为d,则在出射角为θ的方向,可以观测到波长为λ=2dsinθ的一级衍射及波长为λ/2, λ/3…… 等高级衍射。

 

改变θ角,可以观测到另外波长的X射线,因而使不同波长的X射线可以分开。分光晶体靠一个晶体旋转机构带动。因为试样位置是固定的,为了检测到波长为λ的荧光X射线,分光晶体转动θ角,检测器必须转动2θ角。

 

也就是说,一定的2θ角对应一定波长的X射线,连续转动分光晶体和检测器,就可以接收到不同波长的荧光X射线。

 

6.莫斯莱定律

 

莫斯莱定律是揭示(黄光水射线彼长或级数)与元素原子序数关系的规律二x谱线频率的平方根与该元素原子序数成线性关系。

 

其数学式子为:

λ=K(Z-s)-2

 

式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。

 

7.普朗克公式

 

量子力学知识告诉我们,X 射线具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式:E=hc/λ。

 

8.源激发和管激发

 

用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器;

用X射线发生器(又称X光管)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。

 

9.基本参数法

 

一种常用于X射线荧光技术的计算/校准的算法。它根据原子的基本物理特性,将不同的元素之间的干扰效应也纳入了算法中。当分析一个具有高密度的样本时(比如大多数的金属材料),这会是一个非常有效的方法。

 

10.质量衰减系数

 

质量衰减系数,亦称质量吸收系数,是指每平方厘米每克厚的吸收物质(g/cm²),所减少的x线强度的百分数,也即每克质量物质对x射线衰减的程度,单位是cm²/g。

 

11.谱线干扰

 

待测元素分析线上有其他元素谱线重叠或部分重叠,导致分析结果产生误差,或该分析线无法用于光谱分析。有三种情况:分析线与干扰线波长基本相同,谱线完全重叠;分析线与干扰线波长相近,谱线部分重叠;分析线落在带状光谱上。采用色散率及分辨率高的摄谱仪,可减小或消除谱线干扰。

 

12.俄歇效应

 

俄歇效应(Auger effect)是原子发射的一个电子导致另一个或多个电子(俄歇电子)被发射出来而非辐射X射线(不能用光电效应解释),使原子、分子成为高阶离子的物理现象,是伴随一个电子能量降低的同时,另一个(或多个)电子能量增高的跃迁过程。

 

“俄歇效应”是以其发现者,法国人皮埃尔·维克托·俄歇(Pierre Victor Auger)的名字命名的。

 

13.X射线荧光

 

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

 

14. 多元素分析仪器

 

多元素分析仪器是国内先进的一种综合材料快速分析仪,可根据要求分别定制成黑色金属及有色金属中所有C、S、Mn、等常规元素百分含量的快速分析仪。

 

15.脉冲幅度分析器

 

脉冲幅度分析器,测量电脉冲信号幅度分布的仪器。它把脉冲信号按幅度的大小进行分类并记录每类信号的数目。常用于分析射线探测器的输出信号,测量射线的能谱。

 

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